Carregadores sem fio podem ser usados para realizar ações destrutivas. Cientistas da Universidade da Flórida apresentaram um artigo no qual demonstraram como os gadgets podem ser manipulados ou mesmo destruídos usando carregadores sem fio.
Os pesquisadores chamam sua técnica de VoltSchemer, “um conjunto de ataques inovadores que dão aos invasores o controle de carregadores sem fio disponíveis comercialmente”. Os ataques são realizados alterando a tensão de saída da fonte de alimentação do dispositivo, que passa a produzir interferência eletromagnética. Eles podem ser usados, por exemplo, para chamar comandos de voz em smartphones ou para danificar o gadget.
Durante a operação, os carregadores padrão Qi usam um protocolo de comunicação que garante um carregamento seguro – ele para quando a bateria do consumidor está totalmente carregada. Mas este protocolo pode ser manipulado, desabilitando assim mecanismos de proteção, por exemplo, para danificar ou destruir o gadget que está sendo carregado. Por exemplo, o Samsung Galaxy S8 aqueceu até 81 °C em laboratório. Além dos smartphones, o ataque representa uma ameaça para outros objetos metálicos que podem acabar na superfície do carregador. Assim, os grampos do bloco de notas aqueceram até 280 °C, o pen drive começou a derreter e o SSD superaqueceu e perdeu dados.
Felizmente, tal ataque não é fácil de realizar; requer acesso físico ao carregador. Mas os autores do estudo já contactaram os fabricantes para eliminar este problema no futuro.