Micron lança a primeira memória flash SLC NAND do mundo para data centers espaciais — à prova de radiação, vácuo e congelamento

A Micron anunciou o lançamento dos primeiros chips SLC NAND de 256 gigabits do setor para uso espacial. Esses chips são resistentes à radiação, baixas temperaturas e vácuo. Ninguém mais no mundo produz esse tipo de memória. Pelo menos não em escala industrial. Os novos chips têm a maior densidade de sua classe e serão posteriormente complementados por chips de memória NAND, NOR e DRAM “espaciais”.

Fonte da imagem: Micron

Como a Micron acertadamente aponta, a economia espacial está crescendo rapidamente, impulsionada pelo rápido crescimento das missões comerciais e governamentais. Ao mesmo tempo, com o avanço da computação e da inteligência artificial, há uma demanda crescente por tecnologias de processamento de dados de alto desempenho que possam operar diretamente em órbita. Isso ajudará a transformar as operações espaciais: os sensores das naves espaciais serão capazes de analisar dados, detectar anomalias e tomar decisões de forma autônoma, reduzindo a dependência de sistemas terrestres e economizando largura de banda de comunicação com a Terra.

«“À medida que expandimos os limites da computação no espaço, a memória resistente à radiação da Micron é essencial para armazenar e processar dados”, disse Kris Baxter, vice-presidente e gerente geral corporativo da divisão Embarcada e Automotiva da Micron. “À medida que as operações de IA no espaço se expandem — da navegação autônoma à análise em tempo real — a Micron está cada vez mais focada em fornecer soluções que ofereçam a resiliência e a inteligência necessárias para as missões aeroespaciais da próxima geração.”

Para garantir que a nova memória atenda aos requisitos aeroespaciais, os chips da Micron foram testados de acordo com os protocolos de fluxo NASA PEM-INST-001 Nível 2 e MIL-STD-883 TM1019 Condição D, padrão militar dos EUA. O primeiro incluiu uma verificação de componentes de um ano, incluindo ciclos de temperatura extrema, 590 horas de testes de defeitos e testes de confiabilidade dinâmica para garantir a capacidade de voo espacial.

O padrão militar testou a tolerância da memória da Micron a doses de radiação ionizante. O padrão mede a quantidade cumulativa de radiação gama que um produto consegue absorver e permanecer funcional sob condições operacionais padrão em órbita. Essa medição é fundamental para determinar o ciclo de vida da memória.

Por fim, a memória NAND de nível espacial da Micron passou nos testes de impacto de evento único (SEE), que atendem às normas ASTM F1192 da Sociedade Americana de Testes e Materiais e às especificações JESD57 do Conselho de Engenharia de Dispositivos Eletrônicos (JEDEC). Os testes de SEE avaliam os efeitos de partículas de alta energia em semicondutores e verificam se os componentes podem operar com segurança e confiabilidade em ambientes de radiação severa, reduzindo o risco de falha da missão.

A expansão da linha de chips de memória SLC NAND e o fornecimento de outros tipos de memória, incluindo RAM, ocorrerão no próximo ano e, no futuro, o portfólio desses produtos continuará a se expandir para atender a qualquer demanda.